關(guān)于光學(xué)設(shè)計(jì)中,根據(jù)專利畫(huà)出來(lái)的結(jié)構(gòu)圖,厚度不對(duì),怎么辦
關(guān)于光學(xué)設(shè)計(jì)中,根據(jù)專利畫(huà)出來(lái)的結(jié)構(gòu)圖,厚度不對(duì),怎么辦
1、修改厚度:根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)和知識(shí),進(jìn)行合理的厚度調(diào)整,以達(dá)到性能要求。這需要對(duì)光學(xué)設(shè)計(jì)有一定的理論基礎(chǔ)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),并且需要進(jìn)行反復(fù)驗(yàn)證和調(diào)整。2、重新設(shè)計(jì):如果修改厚度后仍無(wú)法達(dá)到性能要求,或者修改過(guò)程過(guò)于繁瑣,可以考慮重新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)。在重新設(shè)計(jì)時(shí),可以參考專利的結(jié)構(gòu)圖,但需要根據(jù)自己的要求進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化和參數(shù)選擇,以滿足系統(tǒng)性能的要求。3、與專利持有人聯(lián)系:如果有條件,可以與專利的持有人聯(lián)系,了解具體的厚度參數(shù)設(shè)置。如果獲得了授權(quán),可以直接使用專利中的結(jié)構(gòu)圖。否則,需要進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新和優(yōu)化,以避免侵犯專利權(quán)。
導(dǎo)讀1、修改厚度:根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)和知識(shí),進(jìn)行合理的厚度調(diào)整,以達(dá)到性能要求。這需要對(duì)光學(xué)設(shè)計(jì)有一定的理論基礎(chǔ)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),并且需要進(jìn)行反復(fù)驗(yàn)證和調(diào)整。2、重新設(shè)計(jì):如果修改厚度后仍無(wú)法達(dá)到性能要求,或者修改過(guò)程過(guò)于繁瑣,可以考慮重新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)。在重新設(shè)計(jì)時(shí),可以參考專利的結(jié)構(gòu)圖,但需要根據(jù)自己的要求進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化和參數(shù)選擇,以滿足系統(tǒng)性能的要求。3、與專利持有人聯(lián)系:如果有條件,可以與專利的持有人聯(lián)系,了解具體的厚度參數(shù)設(shè)置。如果獲得了授權(quán),可以直接使用專利中的結(jié)構(gòu)圖。否則,需要進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新和優(yōu)化,以避免侵犯專利權(quán)。
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可以嘗試以下幾種方法修改厚度,重新設(shè)計(jì),與專利持有人聯(lián)系。1、修改厚度:根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)和知識(shí),進(jìn)行合理的厚度調(diào)整,以達(dá)到性能要求。這需要對(duì)光學(xué)設(shè)計(jì)有一定的理論基礎(chǔ)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),并且需要進(jìn)行反復(fù)驗(yàn)證和調(diào)整。2、重新設(shè)計(jì):如果修改厚度后仍無(wú)法達(dá)到性能要求,或者修改過(guò)程過(guò)于繁瑣,可以考慮重新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)。在重新設(shè)計(jì)時(shí),可以參考專利的結(jié)構(gòu)圖,但需要根據(jù)自己的要求進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化和參數(shù)選擇,以滿足系統(tǒng)性能的要求。3、與專利持有人聯(lián)系:如果有條件,可以與專利的持有人聯(lián)系,了解具體的厚度參數(shù)設(shè)置。如果獲得了授權(quán),可以直接使用專利中的結(jié)構(gòu)圖。否則,需要進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新和優(yōu)化,以避免侵犯專利權(quán)。
關(guān)于光學(xué)設(shè)計(jì)中,根據(jù)專利畫(huà)出來(lái)的結(jié)構(gòu)圖,厚度不對(duì),怎么辦
1、修改厚度:根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)和知識(shí),進(jìn)行合理的厚度調(diào)整,以達(dá)到性能要求。這需要對(duì)光學(xué)設(shè)計(jì)有一定的理論基礎(chǔ)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),并且需要進(jìn)行反復(fù)驗(yàn)證和調(diào)整。2、重新設(shè)計(jì):如果修改厚度后仍無(wú)法達(dá)到性能要求,或者修改過(guò)程過(guò)于繁瑣,可以考慮重新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)。在重新設(shè)計(jì)時(shí),可以參考專利的結(jié)構(gòu)圖,但需要根據(jù)自己的要求進(jìn)行結(jié)構(gòu)優(yōu)化和參數(shù)選擇,以滿足系統(tǒng)性能的要求。3、與專利持有人聯(lián)系:如果有條件,可以與專利的持有人聯(lián)系,了解具體的厚度參數(shù)設(shè)置。如果獲得了授權(quán),可以直接使用專利中的結(jié)構(gòu)圖。否則,需要進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新和優(yōu)化,以避免侵犯專利權(quán)。
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