1. AFM代表原子力顯微鏡，是一種用于研究物質表面微觀結構的精密儀器。2. 原子力顯微鏡技術基于探針與樣品表面原子間的相互作用力，通過檢測這些力來獲取信息。3. 該顯微鏡通過測量探針與樣品間的微小力，將其放大并轉化為電信號，進而用于成像。4. AFM的主要優勢在于其高分辨率、對樣品的廣泛適應性以及在多種環境下的工作能力。5. 原子力顯微鏡在材料科學、生物醫學、環境科學等多個領域有著廣泛的應用。6. AFM的工作原理包括接觸模式和非接觸模式。接觸模式適用于硬樣品和相對平坦表面，而非接觸模式對樣品損傷小，但操作更為復雜。7. 隨著技術進步，原子力顯微鏡的應用范圍持續擴展，不僅在科研領域發揮作用，也應用于工業和醫學等領域。8. 總體而言，原子力顯微鏡是探索微觀世界的重要工具，為科學家提供了深入了解物質表面結構和性質的方法。