1. 透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用加速和聚焦的電子束照射薄樣品的技術。2. 當電子束與樣品中的原子發生碰撞時，電子的方向會發生改變，產生立體角散射。3. 散射角度與樣品的密度和厚度密切相關，這使得可以形成不同明暗的影像。4. 透射電子顯微鏡通常具有0.1至0.2納米的分辨率，以及數萬至數百萬倍的放大倍數，適用于觀察超微結構。5. 該技術在材料科學和生物學等領域有廣泛應用。6. 由于電子易被物體吸收或散射，透射電子顯微鏡的穿透力較低，樣品的密度和厚度會直接影響成像質量。7. 為了獲得清晰的圖像，樣品需要制備成50至100納米厚的超薄切片。8. 樣品制備的常用方法包括超薄切片、冷凍超薄切片、冷凍蝕刻和冷凍斷裂等技術。