當平凸透鏡在牛頓環裝置中向上平移時，對反射光形成的牛頓環條紋間隔產生的影響是顯著的。這些環狀干涉條紋的間距變化與透鏡和平板之間的空氣薄膜厚度變化密切相關。薄膜厚度的變化是由凸透鏡和玻璃平板之間的磨損或壓力變化引起的，這會導致干涉條紋的級數和序數不一致。

具體來說，如果凸透鏡曲率半徑減小，與平板之間的間隙增大，空氣薄膜的厚度會相應增加，這會導致條紋間隔變寬。反之，如果凸透鏡向下移動或減小磨損，空氣薄膜厚度減小，條紋間隔則會變窄。在日光或白光照射下，觀察到的是一系列明暗相間的彩色或單色圓環，其間距隨距離中心點的增加而遞減。

牛頓環現象是等厚薄膜干涉的體現，不同顏色的光在圓環處的干涉效果不同，這使得我們可以利用這種裝置進行光學表面平整度的精密測量。通過調整壓力或長度的微小變化，可以觀察到條紋的移動，從而實現對這些參數的精確控制。

總的來說，牛頓環裝置中，平凸透鏡的移動影響了空氣薄膜的厚度，進而改變了反射光形成的干涉條紋間距，這種變化是通過測量條紋的移動來測量光學元件表面精度和微小物理參數的關鍵手段。