測量不良導體的線脹系數可以采用以下步驟：1.精密光學儀器測量：利用精密光學儀器，如干涉儀或光譜儀，可以精確測量材料的形變。通過在高溫和低溫下分別測量材料的長度變化，可以計算出線脹系數。2.電測技術測量：電測技術是一種通過測量電阻隨溫度的變化來推算材料的線脹系數的技術。在實驗中，將材料置于高溫和低溫環境中，并測量其電阻值的變化。根據電阻值的變化，可以計算出材料的線脹系數。3.光杠桿原理測量：光杠桿是一種利用光學原理放大微小位移量的裝置。通過將樣品放置在光杠桿上，并測量在不同溫度下樣品的位移量，可以計算出樣品的線脹系數。光杠桿具有較高的靈敏度和精度，能夠有效地放大微小位移量，從而提高測量精度。