1. 透射電鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM）是一種于1932年左右發明的高分辨率和 high magnification 的電子光學儀器。2. TEM 使用波長短的電子束作為光源，電子束由電子槍發射，照射到極薄的試樣上，透過試樣的透射電子經過電磁透鏡的多級放大后在熒光屏上形成圖像，或者通過CCD相機進行記錄。3. TEM 的工作原理主要包括電子束的匯聚、試樣的穿透、多級放大和成像。成像方式有明場、暗場和中心暗場等多種。4. 在 TEM 成像中，單晶試樣會顯示出斑點狀的衍射斑，多晶試樣則呈現同心圓環狀的衍射斑，非晶結構則通常顯示為圓形。5. TEM 在材料科學、生物學、化學等領域有著廣泛的應用，可以用于觀察樣品的形貌、物相分析、原子結構觀察、結構缺陷觀察、化學成分分析以及動態過程的觀察等。6. 常見的TEM設備由電子槍、聚光鏡、樣品桿、物鏡、中間鏡、投影鏡、熒光屏或CCD相機等組成。7. 分析實例中，TC4/Ag擴散焊界面的電子顯微形貌觀察和結構分析可以通過TEM完成，以獲得詳細的界面結構和相互作用信息。