1. 掃描電子顯微鏡（SEM）能夠放大樣本至約20萬倍，利用二次電子成像原理來觀察物質的微觀形態。2. 能量色散X射線光譜儀（EDS）通過檢測不同元素特有的電子能量差異來鑒定元素。它通常與SEM配合使用，即在SEM中安裝EDS附件，以便在觀察樣本形態的同時，對特定區域進行元素分析。3. X射線衍射儀（XRD）的工作原理是：在高壓條件下，陰極發射的電子形成高能電子束，這些電子束轟擊陽極靶材（通常是銅）。被激發的靶材內部電子返回基態時，會釋放出額外的能量，形式包括X射線和俄歇電子等。XRD設備收集這些X射線，并將其照射到樣品上。4. 根據布拉格方程，樣品會產生特定的衍射角和衍射峰。由于每種物質具有獨特的衍射峰特征，XRD技術通常用于識別不同的物相，并且可以通過峰面積進行半定量分析。