該實(shí)驗(yàn)注意的事項(xiàng)有：調(diào)節(jié)光程差、確保讀數(shù)準(zhǔn)確、防止透鏡受壓變形、薄膜厚度的均勻性。1、調(diào)節(jié)光程差：如果干涉條紋太淺，需要調(diào)節(jié)顯微鏡下部的反光鏡或稍微擰一下牛頓環(huán)儀上的螺釘。2、確保讀數(shù)準(zhǔn)確：在測(cè)量時(shí)，讀數(shù)顯微鏡的測(cè)微鼓輪應(yīng)沿一個(gè)方向轉(zhuǎn)動(dòng)，中途不可倒轉(zhuǎn)。如果在環(huán)數(shù)的過(guò)程中發(fā)現(xiàn)環(huán)數(shù)有變化，必須重新測(cè)量。3、防止透鏡受壓變形：實(shí)驗(yàn)完畢后，應(yīng)旋松牛頓環(huán)儀上的螺釘，以防透鏡受壓變形。4、薄膜厚度的均勻性：等厚干涉是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋。薄膜厚度相同的地方形成同條干涉條紋，故稱(chēng)等厚干涉。